产物详情
美国HVI美高测 TD-65E超低频耐压测试仪 本产物适用于额定电压 35kV 电缆的介损电桥诊断测试.现在热卖中，如需购买，可通过客服热线联系我们!
美国HVI美高测 TD-65E超低频耐压测试仪介绍：
TD-65E 介损电桥设计用于通过 XBee 协议与 VLF-34E 或 VLF-65E 进行无线通信并协同工作，以形成一个完整的电缆诊断系统。该系统具备*端功能，如无线通信、数据采集，并且可使用随附的 E-Link PC 软件生成报告。它旨在按照世界标准（IEEE 400、IEEE 400.2、IEEE 433、DIN VDE 0276、CENELEC HD620 S1、NEETRAC CDFI 等），对 5 至 35kV 的一次电缆进行介损（Tan Delta，也称为 Tan δ、损耗因数或损耗角）测试。介损测试是一种非破坏性诊断测试，用于测量屏蔽中压 / 高压电缆绝缘的劣化程度。测试结果能够揭示绝缘层的污染、损坏情况或水树分布状况。介损测试是在停电电缆上进行的离线测试，使用交流电源，在本案例中是使用非常低频（0.1Hz）的高压发生器为电缆提供测试电压，同时介损电桥记录测试结果。测试过程中会逐步升高测试电压，并监测读数，以避免在介损数值表明电缆严重劣化时可能出现的电缆故障。
技术参数：
